MEB-EDX : Microscopie Electronique à Balayage couplée à une sonde EDX
Caractérisation morphologique et élémentaire par MEB-EDX
L’observation des matériaux en surface et à cœur par microscopie électronique. Le microscope électronique à balayage (MEB) est l’équipement essentiel à la caractérisation des matériaux, notamment des métaux pour les caractériser en surface ou en coupe.
Caractérisation de la matière
L’imagerie électronique permet la mise en évidence de nombreuses caractéristiques telles que la morphologie, l’état de surface, les différences de compositions chimiques et de nombreux autres détails microscopiques sur tout types de matériaux à l’aide de notre équipement à pression variable.
Nous observons donc les surfaces saines, polluées, avec défaut, sans défaut, facies de rupture, zones de corrosion pour une analyse détaillée des matériaux et des surfaces.
Nos MEB (SEM en anglais) sont tous équipés d’une sonde élémentaire EDX permettant l’analyse chimique semi-quantitative des zones d’intérêts.
Cette technique de détection physico-chimique permet la détection des éléments à partir du Berrylium, sur tous les éléments du tableau de Mendeleiev, et sur tout type de matériaux (minéral, organique, métallique). Nos moyens techniques permettent des analyses point par point, en profil ou par cartographie élémentaire.
Expertise physico-chimique
Le MEB-EDX permet le contrôle, l’analyse, l’expertise physico-chimique des matériaux pour de nombreux projets, contrôle qualité matières ou expertises de défaillances :
- Vérification d’une famille de matériaux
- Contrôle d’épaisseur d’un traitement ou d’un revêtement de surface
- Analyse de pollutions
- Observation de la morphologie de poudres
- Identification de corps étrangers
- Expertise fractographique
- Observation et analyse de défaut de surface type cloquage, whiskers, défaut d’aspect
- Expertise de corrosion
- Analyse de rupture du Verre
- Etude d’un phénomène de fissuration
- Observation de la microstructure de métaux
- …
Microscope électronique à balayage à pression variable HITACHI S3000N, S3400N, SU3500
- Grandissement jusqu’à x100 000
- Pression variable -> Possibilité de métallisation mais la pression variable permet l’observation des échantillons non conducteurs sans métallisation
- Imagerie par contraste topographique (mode SE) ou contraste chimique (mode BSE)
Détecteur EDX UltraDry, Thermo Electron
- Détection à partir du béryllium
- Résolution en énergie : 132 eV sur la raie Ka (Mn)
- Résolution spatiale : 1 µm3